紫外光诱导荧光痕迹快速检测仪 - 长春国科精密光学技术有限公司上海分公司

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紫外光诱导荧光痕迹快速检测仪

时间:2018-03-28 23:32来源:国科上海分公司作者: 销售部点击:次打印

紫外光诱导荧光痕迹快速检测仪基于紫外光激发荧光检测法，可实现载体上荧光物质的快速、高灵敏度探测，如生物芯片定量检测、各种纸张上痕迹的探测等。

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